一：設(shè)備用途：
小型立式恒溫恒濕試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。
型號規(guī)格：BY-260L-80
內(nèi)箱尺寸：寬400×高500×深400(mm)
外箱尺寸：寬620×高1650×深1020(mm)
其他標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格：100升、120升、150升、225升、408升 800升、1000升(可依據(jù)要求定做)
二：設(shè)備相關(guān)技術(shù)指標(biāo)：
1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度：≤±2℃
4.濕度范圍：20～98%R.H
5.濕度偏差：±3%R.H
6.濕度波動：±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度：設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；
濕度：設(shè)定精度±1%R.H，指示精度±1%R.H，解析度±1%R.H
8.升溫速率: 1.0～3.0℃/min
9.降溫速率: 0.7～1.0℃/min
#關(guān)于溫度上升及下降速率是指空氣溫度變化速率，而非產(chǎn)品溫度變化速率(在空載時+25℃)
三：設(shè)備結(jié)構(gòu)特點：
整體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。
#內(nèi)箱采用進(jìn)口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板，外箱采用(SUS304)拉絲不銹鋼板或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
#設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
#箱體左側(cè)配直徑25mm或50mm或100mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。
#保溫材質(zhì)采用高密度玻璃纖維棉，厚度為80~100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條，以確保測試區(qū)的密封。
#設(shè)有獨立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度及自動中斷運(yùn)行，保證試驗安全進(jìn)行不發(fā)生意外。
#補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動保護(hù)，更便利操作者補(bǔ)充水源。
#加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。
#水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)采用門式開啟，方便維護(hù)和檢修。
#試驗箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪。
四：設(shè)備主要配置：
小型立式恒溫恒濕試驗箱主要由控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、供水系統(tǒng)、循環(huán)系統(tǒng)、安全保護(hù)系統(tǒng)構(gòu)成。系統(tǒng)主要配置80%采用進(jìn)口制造件，具備高效的運(yùn)行體系，提供穩(wěn)定可靠的性能。
?、倏刂破鳎?寸彩色溫度控制器，具有操作簡單，易學(xué)，控制精度高，PID模式，可節(jié)能10%以上。
②制冷機(jī)：全封閉法國泰康(或美國谷輪)壓縮機(jī)；冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。采用風(fēng)冷單機(jī)壓縮/風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷方式。
③加熱器：鰭片散熱管形鎳鉻合金不銹鋼電加熱器。
溫度傳感器：PT100鉑金電阻
濕度測量采用干濕球測量法
?、芗訚衿鳎和庵酶綦x式全不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器，通過加熱形成濕蒸氣加濕。
⑤供水系統(tǒng)：隱藏式水箱供水，小水泵自動抽水到加濕桶，可回收余水.節(jié)水降耗。
?、扪h(huán)系統(tǒng)：鋁制多翼式離心送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
?、甙踩Ｗo(hù)裝置：無熔絲開關(guān)，缺水警報系統(tǒng)，防干燒裝置，極限高低溫保護(hù)，溫度偏差報警，壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)，缺相、逆相、短路、漏電保護(hù)。
設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
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